logic testing; built-in self test; minimisation; system-on-chip; SoC testing; built-in self-test; hybrid BIST time minimization; core-based systems; STUMPS architecture; sequential cores; pseudorandom test patterns; deterministic test patterns; memory co;
机译:基于核心的系统的混合BIST的测试时间最小化
机译:基于核心的系统的混合BIST的测试时间最小化
机译:混合BIST方法论用于测试基于核心的系统
机译:具有树桩架构的核心系统混合BIST时间最小化
机译:基于STUMPS的BIST结构的分层诊断系统
机译:双稳态混合量子系统中的超长弛豫时间
机译:具有STUMPS架构的基于核心的系统的混合BIST时间最小化