机译:使用非接触式原子力显微镜和扫描隧道显微镜对TiO2(011)-(2 x 1)表面进行成像
机译:Ag(111)上生长的硅层的原子结构:扫描隧道显微镜和非接触式原子力显微镜观察。
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机译:使用触点和非接触扫描力显微镜(SFM)测定异质系统的电性能
机译:扫描涡流力显微镜的设计和开发,用于以纳米分辨率表征电,磁和铁电特性。
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机译:研究非接触/扫描力显微镜sFm中硅尖端污染的影响