Department of Quantum Engineering, Nagoya University, Furo-cho, Chikusa-ku, Nagoya 464-8603, Japan;
solid surfaces and solid-solid interfaces: structure and energetics; microscopy of surfaces, interfaces, and thin films;
机译:用开尔文探针力显微镜测量AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管的表面电势
机译:用开尔文探针力显微镜测量1.3 / splμm/ m埋入式异质结构激光二极管的劈开镜面的接触电势
机译:开尔文探针力显微镜研究裂解的AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管中的表面电势瞬变
机译:Kelvin探针力显微镜测量AlGaN / GaN异质结构和N-GaN的表面接触电位
机译:开尔文探针电极,用于非接触式电势测量,用于混凝土性能和应用
机译:使用开尔文探针力显微镜的细菌表面电位测量
机译:Kelvin力显微镜的表面电位测量的现状。超高真空扫描探针显微镜的原子级潜在成像。