School of Management, Tianjin University, Tianjin 300072;
measurement system error; process capability; RR;
机译:时域雷达吸收材料电磁参数测量的信号处理及误差分析
机译:WLS状态估计器中用于处理总误差的最大归一化残差测试稳健性分析
机译:带有测量误差的测量过程良率的广义推论—半导体行业中硅晶片制造过程的质量控制
机译:WLS估计器中最大误差处理的最大归一化残留测试分析
机译:农业面源污染与水质交易:不完全成本信息和计量误差下的实证分析。
机译:微阵列分析中的质量加权均值和T检验可提高基因表达测量的准确性并减少差异表达检测中的I型和II型错误
机译:芯片分析中的质量加权均值和T检验可提高基因表达测量的准确性,并减少差异表达检测中的I型和II型错误