Kyushu Institute of Technology 680–4 Kawazu Iizuka Japan 820-8502;
University of Stuttgart Pfaffenwaldring 47 Stuttgart Germany 70569;
Kyushu Institute of Technology 680–4 Kawazu Iizuka J;
small delay defect; logic diagnosis; test compression; process variation; GP-GPU;
机译:碳纳米管FET电路的变形感知延迟故障测试
机译:基于SAT的过渡时延故障压缩偏斜载荷测试生成
机译:基于低覆盖率测试的路径延迟故障诊断
机译:变异感知小型延迟故障诊断压缩测试响应
机译:压缩机制可减少测试模式计数,并针对路径延迟故障进行分段延迟故障测试
机译:稀疏分解法用于滚动轴承压缩故障诊断
机译:变异感知测试生成的延迟故障检测概率的增量计算
机译:人工智能系统辅助核动力装置操作员对工厂故障和瞬态的诊断和响应