boundary scan circuit; test set generation; latch adjacency; delay fault coverage;
机译:关于使用随机有限扫描来改进扫描电路的全速随机模式测试
机译:在标准扫描电路中测试路径延迟故障所需的输入必要分配
机译:非扫描顺序电路的生成功能延迟故障测试
机译:提高边界扫描电路的延迟测试质量
机译:组合电路和扫描电路的高效和高质量延迟测试。
机译:二级延迟乘和和图像重建方法提高了基于LED的光声阵列扫描仪的成像质量
机译:随机受限扫描可改善扫描电路的随机模式测试+