二層誘電体円柱の再構成への区間解析の利用

摘要

本稿では，二層誘電体円柱の比誘電率を推定する単純な逆散乱問題を，区間解析を用いる大域的最適化法を適用して解いた．その結果として，局所的最小点にとどまることはなく，ほぼ真値が推定できている．一方，目的関数およびその偏導関数の区間拡張が過大評価され，その結果反復回数が多くなることは問題である．詳細の手順の特徴の分析や多くの未知のパラメータを含む複雑な問題へ適用していくことが今後の課題である．