Substrate noise in LC-matched ultra wide-band low noise amplifier of UWB systems

机译：超宽带系统的LC匹配超宽带低噪声放大器中的基板噪声

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In this paper, we present the substrate noise in wideband LC-matched low noise amplifier (LNA). The measurement of fabricated test structure shows the critical level of noise at the input of wideband LNA. The noise at the input of LNA is evaluated by elec

机译：在本文中，我们介绍了宽带LC匹配低噪声放大器（LNA）中的基板噪声。预制测试结构的测量结果显示了宽带LNA输入处的临界噪声水平。 LEC输入端的噪声由elec评估

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来源
《Electron Devices and Solid- State Circuits, 2007 IEEE Conference on》|2007年|P.469-472|共4页
会议地点 TainanTaiwan
作者
Fanaei; A.; Pannier; P.; Gaubert; J.; Battista; M.; Bachelet; Y.;
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作者单位

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会议组织
原文格式 PDF
正文语种
中图分类
关键词
low noise amplifiers; ultra wideband technology; LC-matched LNA; UWB systems; electromagnetic simulations; substrate noise; ultrawideband low noise amplifier;

机译：低噪声放大器；超宽带技术； LC匹配的LNA;超宽带系统；电磁模拟基板噪音；超宽带低噪声放大器;

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