Process and Manufacturing Engineering Center, Semiconductor Company, Toshiba Corporation, Yokohama, Kanagawa 235-8522, Japan;
mix and match; dynamic scan distortion; APC system;
机译:预测在光刻扫描仪吸盘期间由于晶片变形而引起的变形和覆盖误差
机译:混搭之外的使用寿命:控制小于0.18μm的重叠误差
机译:用圆形扫描补偿语言发生器中的写入光束相对运动的轨迹扭曲的方法
机译:通过补偿动态扫描失真误差来混合和匹配叠加方法
机译:磁共振扩散张量成像:畸变校正方法及其在高分辨率体内猴脑扫描中的应用。
机译:一种补偿结构光3D摄像机温度造成的误差的方法
机译:多模工业CT扫描平台测量和补偿滚珠丝杠误差的方法
机译:伊利诺伊州混凝土桥面铺盖层:混合设计试验和211施工方法研究