Fraunhofer IZFP, Universitaet Geb. 37, D-66123 Saarbruecken, Germany;
BEMI; barkhausen noise; eddy current; microscopy; imaging; residual stress; coating; thickness; microstructure; thin films;
机译:使用扫描探针显微镜技术表征氧化物材料的局部电性能:综述
机译:使用涡流和磁性巴克豪森噪声测试技术无损检查脱碳层的钢丝钢层
机译:用扫描探针显微镜技术探测高级材料的局部多场耦合现象
机译:Barkhausen噪声和涡流显微镜 - 一种新的扫描探头技术,用于材料的微观校正
机译:扫描探针显微镜技术表征氧化锌基材料的多功能性质
机译:使用扫描探针显微镜技术表征植物细胞壁
机译:巴克豪森噪声和涡流显微镜(BEMI):显微镜配置,探头和成像特性
机译:使用扫描探针显微镜的集成电路的非侵入式电流和电压成像技术。最终报告,LDRD项目FY93和FY94