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Universal Test Sets for Reversible Circuits

机译:可逆电路通用测试仪

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摘要

A set of test vectors is complete for a reversible circuit if it covers all stuck-at faults on the wires of the circuit. It has been known that any reversible circuit has a surprisingly small complete test set, while it is NP-hard to generate a minimum complete test set for a reversible circuit. A test set is universal for a family of reversible circuits if it is complete for any circuit in the family. We show minimum universal test sets for some families of CNOT circuits.
机译:如果可逆电路涵盖了电路线路上所有卡住的故障,那么一组测试向量就完成了。众所周知,任何可逆电路都具有出乎意料的小完整测试集,而很难为可逆电路生成最小的完整测试集。如果一个测试装置对于该系列中的任何电路都是完整的,那么它对于该系列可逆电路是通用的。我们显示了一些CNOT电路系列的最小通用测试集。

著录项

  • 来源
    《Computing and combinatorics》|2010年|p.348-357|共10页
  • 会议地点 Nha Trang(VN);Nha Trang(VN);Nha Trang(VN)
  • 作者单位

    Department of Communications and Integrated Systems Tokyo Institute of Technology, Tokyo 152-8550-S3-57, Japan;

    Department of Communications and Integrated Systems Tokyo Institute of Technology, Tokyo 152-8550-S3-57, Japan;

    Department of Communications and Integrated Systems Tokyo Institute of Technology, Tokyo 152-8550-S3-57, Japan;

  • 会议组织
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 计算技术、计算机技术;
  • 关键词

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