Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, Argonne, IL 60439, U.S.A.;
Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, Argonne, IL 60439, U.S.A.;
Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, Argonne, IL 60439, U.S.A.;
Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, Argonne, IL 60439, U.S.A.,University of Illinois at Chicago, Chicago, IL 60607, USA;
Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, Argonne, IL 60439, U.S.A.,University of Illinois at Chicago, Chicago, IL 60607, USA;
Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, Argonne, IL 60439, U.S.A.;
Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, Argonne, IL 60439, U.S.A.;
x-ray optics; long trace profiler; precision motion control;
机译:转台标定精密角度分度系统的设计
机译:“用于旋转工作台校准的精密角度分度系统的设计”勘误表[JMST 26(3)(2012)847–855]
机译:转台标定精密角度分度系统的设计
机译:通过使用基于长轨迹轮廓仪的系统进行亚微角度稳定性测量
机译:3D微尺度零件表面分析的3D感觉系统的设计,开发和校准
机译:使用自适应混合TLBO校准6自由度精密平台的霍尔测量系统
机译:“旋转桌校准精密角度分度系统设计”的勘探JMST 26(3)(2012)847-855
机译:利用基于长迹分析器的211系统进行亚m-Rad角稳定性测量