首页> 外文会议>2019年第66回応用物理学会春季学術講演会講演予稿集 >Growth of Tin Oxide Film with Buffer Layer on Sapphire Substrate by Mist Chemical Vapor Deposition
【24h】

Growth of Tin Oxide Film with Buffer Layer on Sapphire Substrate by Mist Chemical Vapor Deposition

机译:薄雾化学气相沉积法在蓝宝石衬底上生长带缓冲层的氧化锡膜

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摘要

The wide band-gap oxide semiconductors have attracted substantial attentions due to their physical properties and potential technological applications. Tin oxide (SnO_2) is an abundant material and usually used for transparent conducting electrodes and gas sensors. Furthermore, tin oxide can be applied to power devices because of the wide bandgap property (~4eV). In this study, we deposited SnO_2 film on buffer layers on sapphire substrates by mist chemical vapor deposition (mist-CVD).
机译:由于其物理性质和潜在的技术应用,宽带间隙氧化物半导体引起了大量关注。氧化锡(SnO_2)是一种丰富的材料,通常用于透明导电电极和气体传感器。此外,由于宽带隙性能(〜4ev),可以将氧化锡施加到电力器件上。在这项研究中,通过雾化学气相沉积(Mist-CVD)沉积在蓝宝石衬底上的缓冲层上的SnO_2薄膜。

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