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Enhancing of Structures in Coherence Probe Microscopy Imaging

机译:相干探针显微镜成像中结构的增强

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摘要

The principle of Fourier plane filtering in coherence probe microscopy (CPM) is demonstrated. It is shown that an edge contrast enhancement can be obtained in an isotropic and anisotropic way for different technical materials containing interfaces or internal micro-structures. Additionally image processing completes the CPM imaging and analysis.
机译:证明了相干探针显微镜(CPM)中傅里叶平面滤波的原理。结果表明,对于包含界面或内部微观结构的不同技术材料,可以通过各向同性和各向异性的方式获得边缘对比度的增强。此外,图像处理还可以完成CPM成像和分析。

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