边界扫描技术及其在芯片测试中的应用

摘要

随着集成电路规模的不断增大，芯片的可测性设计正变得越来越重要。本文介绍了目前较常用的边界扫描测试技术的原理、结构，并给出了边界扫描技术的在芯片测试中的应用范围，最后结合自动测试设备，提出了边界扫描技术用于芯片测试的方法。