弯曲损耗不敏感单模光纤谱衰减性能测试分析

摘要

本文通过研究分析大量的实验测试数据,探讨了光纤中高阶模对于弯曲不敏感单模光纤谱衰减测试准确性的影响,并提出了相应的解决方案.G.657光纤相对于传统单模光纤有更高的耐弯曲性能。在剪断法进行谱衰减的测试中，如果光纤截止波长大于1310nm工作波长，那么在注入端的2m光纤长度上打一个30mm半径的圆圈来滤模的传统方法，不能够保证1310nm波长附近衰减值的准确测试。衰减测试方法的国标中A.1.2.3条推荐在被试2m光纤上绕一个半径30mm单圈的方式去除高阶模的测试条件对常规的抗弯性能并不优越的G.657.A2光纤是可以适用的。但是对于某些弯曲性能好的G.657.A2光纤，在被测样品上绕与不绕30mm半径的圈对滤除高阶模的作用很小，或基本上没有作用，高阶模并不能够通过这种方法被完全滤除掉，这样就会出现测试结果重复性差，在1310nm处谱衰减值偏大的现象。为了避免高阶模测试G.657.A2在1310nm波长附近衰减值的影响，推荐适当增加截断的参考光纤的长度。