首页> 中文会议>2017 年全国天线年会 >偏馈反射面天线宽角扫描的馈源轨迹研究

偏馈反射面天线宽角扫描的馈源轨迹研究

摘要

为满足反射面天线应用于高功率微波系统时具有增益平坦度较优的宽角度波束扫描功能,本文对反射面天线的馈源进行了最优轨迹研究.在单偏馈反射面天线系统中固定反射面,通过运动馈源来实现波束扫描.在波束扫描过程中,由于馈源偏焦导致天线方向图性能恶化,利用射线追踪法控制光程差和出射方向偏差,寻找每个特定扫描角度方向图性能恶化程度最小的最佳馈源位置,完成馈源轨迹寻优.通过软件进行仿真设计,对比轨迹寻优前后天线增益的变化,验证了设计方法的正确性.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号