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新型PSVA像素结构中液晶配向的研究

摘要

本文研究了一种新型的PSVA(聚合物稳定垂直配向)像素结构,与传统的的像素结构相比,该新型结构具有更高的穿透率.钝化(Passivation,PV)层的沟槽深度是新型像素结构中的一个关键参数,液晶的方位角和倾斜角与沟槽深度具有很强的相关性.本文通过模拟和实验研究了液晶的在该结构中的配向行为.

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