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基于边缘电流法近远场变换中的探头补偿

摘要

雷达测试需要在微波暗室进行,而平面近场测试是主要的手段.针对目前平面近远场变换中,探头H面方向图对天线远区副瓣引入误差较大的情况,研究了一种基于边缘电流法近远场变换的探头补偿.通过在微波暗室对某频段阵列天线测量,并分别用传统使用的stratton-chu积分法、E面电场法与边缘电流法进行近远场变换并进行比较.结果表明,此方法相比传统方法,副瓣精度基本接近国际先进水平,远远高于国内现有水平,证明了该方法的有效性和工程实用性,并填补了国内空白.

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