首页> 中文会议>中国电子学会微波分会'97结构与工艺联合学术年会 >机载电子设备测试系统的结构造型设计

机载电子设备测试系统的结构造型设计

摘要

该文以机载电子设备测试系统的研制情况为例,详细论述了测试系统造型设计的全过程,并总结了造型设计的思路与步骤。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号