首页> 中文会议>中国电子学会第四届青年学术年会 >相关的阴影Rice衰落信道中成对错误概率分析

相关的阴影Rice衰落信道中成对错误概率分析

摘要

本文定性地分析了相关的阴影Rice衰落信道中的成对错误概率,讨论了不同衰落环境下的TCM设什准则和有限的最佳交织深度,得出了一些有价值的结论。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号