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朱智勇; 侯明东; 金运范; 李长林; 刘昌龙; 张崇宏; 孙友梅; 陈克勤;
中国物理学会;
中国核学会;
正电子寿命; 氩离子辐照; 缺陷;
机译:通过正电子寿命测量研究塑性变形硅中的缺陷性质
机译:通过使用LCS Gamma-ray产生的高能正电子在新斯巴鲁的高能量正电子对散装非晶合金的正电子湮没多普勒拓宽测量
机译:高能Bi和Kr离子缺陷铁中正电子寿命谱的研究。
机译:正电子寿命和多普勒拓展在蓝宝石中迅速离子辐照产生的缺陷
机译:使用硅条检测器测量由高能重离子产生的次级带电粒子破碎截面。
机译:受控点缺陷产生条件下离子束辐照在GaSbInSb和Ge中形成纳米孔结构
机译:具有高能尾电子和正电子分布的电子-正电子-离子等离子体中的三维离子声波的横向扰动
机译:10-mev电子辐照在硅中引入缺陷的性质
机译:PET系统中具有正电子寿命测量功能的PET系统和正电子寿命测量方法
机译:具有正电子寿命测量功能的pet装置及pet装置中的正电子寿命测量方法
机译:PET系统具有正电子寿命测量功能和宠物系统的正电子寿命测量方法
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