首页> 中文会议>第九届全国可靠性物理学术讨论会 >双极型晶体管B-E结反向击穿引起的hFE下降

双极型晶体管B-E结反向击穿引起的hFE下降

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

本文报导了对两种双极型晶体管进行的B-E结反向穿试验以及h<,FE>随击穿应力的变化关系.

著录项

来源
《第九届全国可靠性物理学术讨论会》|2001年|107-109|共3页
会议地点延安
作者
谭宗新; 徐立生; 高兆丰;
展开▼
作者单位

中国电子学会;

展开▼
会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测量和检验;
关键词
反向击穿; 复合电流; 晶体管;
入库时间 2022-08-17 10:20:56

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 双极器件EB结击穿测试对HFE的影响 [J] . 戴昌梅 ,郑若成 . 电子与封装 . 2010,第001期
2. 硅PN结反向击穿冷阴极研究 [J] . 李琼 ,张锻 . 微细加工技术 . 1993,第003期
3. 双极型晶体管共发射极正向电流传输比hFE的自动测试方法 [J] . 袁翔 ,黄小柳 . 实验室研究与探索 . 1997,第005期
4. 粮食作物播种面积继续下降应引起高度重视：—经济作物和其他农作物面积增加结 [J] . 张建民 . 山西农经 . 1989,第002期
5. 等价掺杂转换理论预示扩散 -外延穿通P-N结的击穿电压和击穿峰值电场强度(英文) [J] . 何进 ,张兴 ,黄如 . 半导体学报：英文版 . 2001,第3期
6. 高频小功率管EB结雪崩击穿引起的hFE退化纠正措施 [C] . 徐立生 . 电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会 . 1985
7. SiGe异质结双极型晶体管新结构研究 [A] . 武瑜 . 2015

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号