第三代基因测序系统中不同纳米孔材料对DNA过孔行为的影响

摘要

为了模拟不同纳米孔材料对DNA分子摩擦行为的影响,本文使用20000 bpDNA自组装于修饰有氨基的SiO2球形针尖表面.采用原子力显微镜(AFM,在PBS缓冲溶液下测试吸附有DNA分子的SiO2针尖与三种不同基底(二氧化硅、氮化硅、石墨烯)间的摩擦力.为了验证DNA分子自组装于SiO2针尖表面,在摩擦力实验前后在PBS缓冲溶液下,测试吸附有DNA的SiO2针尖与干净云母表面间的力曲线.研究有助于理解不同纳米孔材料对DNA摩擦行为的调控机理,并对基于纳米孔的第三代基因测序技术的发展具有重要的指导意义.