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LCR全自动闭环测试系统

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本文介绍了LCR全自动闭环测试系统的硬软件系统的设计与实现.系统以计算机和单片机控制器为核心,结合专门开发的测试和数据分析软件,实现LCR温度特性、频率特性的多通道自动测试和数据处理,克服了传统人工测试费时、重复性差、数据分析困难、检测环境难以控制等问题.

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来源
《中国自动化学会华东地区第十七届学术年会》|2004年|259-262|共4页
会议地点杭州
作者
陈伟; 吉国力;
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作者单位

中国自动化学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试、调整及设备;
关键词
测试仪; 闭环测试系统; 电子元件;

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