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中国电子学会;
TLP测试; ESD设计; IV特性; 集成电路;
机译:有源ESD保护电路设计,针对CMOS集成电路中的充电设备模型ESD事件
机译:集成电路的片上ESD保护设计:IC设计人员的概述
机译:集成电路ESD稳健性的可扩展和多功能设计指导工具 - 第二部分
机译:基于验证技术的设计错误诊断逻辑集成电路设计
机译:新型基于硅的可控整流器(SCR)的器件的设计,表征和紧凑模型,用于集成电路中的静电放电(ESD)保护应用。
机译:用于辐射硬化电荷敏感放大器的集成电路设计最多2个MRAD
机译:考虑集成电路中高速/高频I / O接口的低电容EsD保护设计
机译:sURLasTILILITÉ,LEs解决方案pÉRIODIQUEsETLaRÉsOLUTIONDECERTaINEsCaTÉGORIEsD'ÉQUaTIONsETYsTÉmEsD'ÉQUaTIONsDIFFÉRENQUELLEsCOUpLÉEsNONINÉÉEsEsDEsassIssaNDaNs LEsLCIEsLLaTIONsBÉTaTRONIQUEs
机译:利用平面图设计保护集成电路免受ESD事件的静电放电(ESD)保护结构以及相关的集成电路和ESD保护方法
机译:静电放电(ESD)保护结构,利用地板计划设计来保护集成电路不受ESD事件影响,以及相关的集成电路和ESD保护方法
机译:自保护静电放电场效应晶体管(SPESDFET),将SPESDFET用作输入/输出(I / O)焊盘驱动器的集成电路以及形成SPESDFET和集成电路的相关方法
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