高数值孔径对STED超分辨显微成像技术的影响

摘要

在这篇文章中,分析了不同高数值孔径对受激发射损耗(STED)显微中损耗光光强分布的影响.根据Debye矢量衍射积分公式,研究了STED显微成像中,损耗光经过0/2π螺旋相位板,再经过高数值孔径(NA)透镜时的聚焦特性.从结果中可以分析得到,当数值孔径增大时,损耗光的半高宽(FWHM)大小会减小,但是当NA从1.15变到1.30时,半高宽保持不变,当NA=1.35,1.4的时,半高宽有向上增加的趋势.结果表明:一般来说当NA增大时,STED显微的分辨率是提高的,但是不能严格地说,数值孔径越大,STED显微镜的分辨率越大.