一种具有反馈回路的静电电位测量系统

摘要

带电物体的表面的电荷量通常无法直接被测量,常使用的方法是利用静电电位计或静电电压计测量与电荷量相联系的静电电位来间接的得到带电物体表面的电荷量。但是如果用普通的静电电荷计或是静电电压计测量表面积小或是带电荷量少的物体时,就会产生较大的偏差。为了解决这个问题,一种新的静电电位测量系统被设计出来,它具有一个反馈回路,能够有效减少测量系统对被测物体表面所带电荷量的影响,使测到的结果更准确。将静电电位测量系统与PXI数据采集卡相连,并结合LabVIEW开发的软件,对接通已知电压的长矩形金属条进行了测量。实验证明这种新的静电电位测量系统更适合测量小的或带电荷量少的物体的表面的电荷量。