首页> 外国专利> Method and apparatus for the determination of the wavelengths for the radiation drying most favorable

Method and apparatus for the determination of the wavelengths for the radiation drying most favorable

机译:确定最有利于辐射干燥的波长的方法和装置

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE955307C

    专利类型

  • 公开/公告日1957-01-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS-SCHUCKERTWERKE AKTIENGESELLSCHAFT;

    申请/专利号DE1952S029476

  • 发明设计人 SAUTER DR. EUGEN;

    申请日1952-07-27

  • 分类号F26B3/30;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 22:18:42

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号