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Active vibration compensation apparatus e.g. for atomic force microscope, digitizes sensor signals, supplies to digital data processor for analysis, and controls actuator accordingly

机译:主动振动补偿装置用于原子力显微镜,将传感器信号数字化,提供给数字数据处理器进行分析,并相应地控制执行器

摘要

The apparatus includes an actuator for applying forces or deflecting a table (11) based on signals from one or more sensors (17). A control circuit (16) receives and processes the sensor signals and drives the actuator(s). A digital data processor is used to process the sensor signals. An interface including at least one A/D converter digitizes the sensor signals for supply to the digital data processor. The processor analyzes sensor signals produced at different times.
机译:该设备包括致动器,该致动器用于基于来自一个或多个传感器(17)的信号施加力或使工作台(11)偏转。控制电路(16)接收并处理传感器信号并驱动致动器。数字数据处理器用于处理传感器信号。包括至少一个A / D转换器的接口将传感器信号数字化,以提供给数字数据处理器。处理器分析在不同时间产生的传感器信号。

著录项

  • 公开/公告号DE20303784U1

    专利类型

  • 公开/公告日2003-07-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HALCYONICS GMBH;

    申请/专利号DE2003203784U

  • 发明设计人

    申请日2003-03-07

  • 分类号G05D19/02;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 23:40:56

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