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METHOD OF EXTRACTING MODEL PARAMETER SET FOR MONTE-CARLO SIMULATION

机译:蒙特卡罗模拟中提取模型参数集的方法

摘要

The extraction method of the Monte-Carlo simulation model parameters for a set is disclosed. Measuring the main characteristic data (ET data) of the basic elements constituting the integrated circuit, and extracts a variation value of the measured data ET. By a variation value of the measured data ET with the objective function to extract the model parameters set that can reproduce the variation value of the ET data best. Because by using a variation value of the measured data ET with the objective function to obtain the dispersion value of the selected model parameters, it is possible to accurately implement the variation of the ET data, circuit analysis of a distributed nature.
机译:公开了用于集合的蒙特卡罗仿真模型参数的提取方法。测量构成集成电路的基本元件的主要特性数据(ET数据),并提取测量数据ET的变化值。通过具有目标函数的测量数据ET的变化值来提取模型参数集,该参数集可以最佳地再现ET数据的变化值。因为通过使用具有目标函数的测量数据ET的变化值来获得所选择的模型参数的离散值,所以可以准确地实现ET数据的变化,分布式的电路分析。

著录项

  • 公开/公告号KR20050078071A

    专利类型

  • 公开/公告日2005-08-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号KR20040006175

  • 发明设计人 YANG GI YOUNG;JANG YONG UN;

    申请日2004-01-30

  • 分类号G06F17/10;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 22:04:50

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