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BZFLASH subcircuit to dynamically supply BZ codes for controlled impedance buffer development, verification and system level simulations

机译:BZFLASH子电路可动态提供BZ代码,用于受控阻抗缓冲器的开发,验证和系统级仿真

摘要

A design and verification aide that can be used to produce BZ codes under static or dynamic process, voltage, temperature and external reference resistor (PVT and R) conditions for impedance controlled buffers or any other application using BZ codes. The simulation technique follows that of a flash ADC, and effectively replaces an awkward state-machine BZ controller with a subcircuit consisting of 5 BZREFN's, 5 BZREFP's, 10 HSPICE behavioral comparators, and the BZVREF. The resulting N- and P-codes may be adjusted by a parameterized dither count with minimum and maximum code values enforced by the model, and the comparators can be modified to model offset voltage.
机译:一种设计和验证助手,可用于在静态或动态过程,电压,温度和外部参考电阻(PVT和R)条件下为阻抗控制缓冲器或使用BZ代码的任何其他应用生成BZ代码。仿真技术遵循闪存ADC的仿真技术,并有效地用一个由5个BZREFN,5个BZREFP,10个HSPICE行为比较器和BZVREF组成的子电路代替笨拙的状态机BZ控制器。可以通过参数化的抖动计数来调整所得的N代码和P代码,该代码具有由模型强制执行的最小和最大代码值,并且可以修改比较器以对偏移电压进行建模。

著录项

  • 公开/公告号US6973421B1

    专利类型

  • 公开/公告日2005-12-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KEVIN J. BRUNO;

    申请/专利号US20010934051

  • 发明设计人 KEVIN J. BRUNO;

    申请日2001-08-21

  • 分类号G06F17/50;H03K19/175;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:40:30

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