首页> 外国专利> EPITAXIAL GROWTH OF ALIGNED ALGAINN NANOWIRES BY METAL-ORGANIC CHEMICAL VAPOR DEPOSITION

EPITAXIAL GROWTH OF ALIGNED ALGAINN NANOWIRES BY METAL-ORGANIC CHEMICAL VAPOR DEPOSITION

机译:金属有机化学气相沉积法对准的阿尔金纳米线的表观生长

摘要

Highly ordered and aligned epitaxy of III-Nitride nanowires is demonstrated in this work. 1010 M-axis is identified as a preferential nanowire growth direction through a detailed study of GaN/A1N trunk/branch nanostructures by transmission electron microscopy. Crystallographic selectivity can be used to achieve spatial and orientational control of nanowire growth. Vertically aligned (Al)GaN nanowires are prepared on M­plane AIN substrates. Horizontally ordered nanowires, extending from the M-plane sidewalls of GaN hexagonal mesas or islands demonstrate new opportunities for self­ aligned nanowire devices, interconnects, and networks.
机译:这项工作证明了III族氮化物纳米线的高度有序和排列的外延。 <1010>通过透射电子显微镜对GaN / AlN主干/分支纳米结构的详细研究,M轴被确定为纳米线的优先生长方向。晶体学选择性可用于实现纳米线生长的空间和取向控制。在Mplane AIN基板上制备垂直排列的(Al)GaN纳米线。从GaN六角形台面或岛的M平面侧壁延伸的水平排列的纳米线展示了自对准纳米线器件,互连和网络的新机遇。

著录项

  • 公开/公告号WO2006110163A3

    专利类型

  • 公开/公告日2007-07-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 YALE UNIVERSITY;HAN JUNG;SU JIE;

    申请/专利号WO2005US29571

  • 发明设计人 HAN JUNG;SU JIE;

    申请日2005-08-19

  • 分类号H01L21/20;H01L21/205;H01L21/36;H01L21/365;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 20:52:14

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号