要解决的问题:提供一种环境放射性测量和控制系统,以廉价的方式处理用于大量测量环境放射性的测量样品,以及放射性强度的分析方法。解决方案:在客户的站点110(110A,110B,110C,110D)中,ra和的后代核素在过滤器中被清除,并且总测量值为α。在清除后的一小时内进行剂量(步骤S01)。随后,将具有清除条件信息,总测量信息和提取地点信息等的过滤器输送到分析中心120(步骤S02)。在分析中心120中,再次对所输送的过滤器进行总体测量,并且分析放射性核素以精确地评估放射性强度(步骤S03)。随后,计算出站点110中的测量样品提取时的don量和的量(步骤S04),并且将don量和的量的分析结果报告给顾客(步骤S04)。 S05)。
版权:(C)2009,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2009063510A
专利类型
公开/公告日2009-03-26
原文格式PDF
申请/专利权人 HITACHI LTD;
申请/专利号JP20070233252
申请日2007-09-07
分类号G01T1/16;G01T1/167;G01T7/02;G01N1/22;G01N1/02;G06Q50/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 19:44:20