机译:在X射线装置中对X射线图像即荧光检查图像进行后处理的方法包括在参数上外推X射线图像以确定代表图像,并调整代表图像的空间频率特性。
公开/公告号DE102009020026A1
专利类型
公开/公告日2010-11-11
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;
申请/专利号DE20091020026
申请日2009-05-05
分类号G01N23/04;G06T3/40;H04N5/32;A61B6;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 17:47:56