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TRACE DATA ACQUISITION DEVICE, TRACE DATA ACQUISITION METHOD OF TRACE DATA ACQUISITION DEVICE, AND DEBUGGING SYSTEM

机译:痕迹数据获取装置,痕迹数据获取装置的痕迹数据获取方法以及调试系统

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To efficiently acquire necessary trace data without stopping execution of an LSI nor dividing a program to be tested.SOLUTION: A trace data input/output state analysis part 140 selects types of trace data 101 in the decreasing order of priority based upon free capacity 102 of a trace data buffer 120. A trace data selection part 110 inputs trace data 101 from a trace signal generation source of LSI and determines whether the input trace data 101 is trace data 101 of a selected type. When the trace data 101 is the trace data 101 of the selected type, the trace data selection part 110 stores the trace data 101 in a trace data buffer 120. When the trace data 101 is not the trace data 101 of the selected type, the trace data selection part 110 discards the trace data 101.
机译:解决的问题:为了在不停止LSI的执行或不分割要测试的程序的情况下有效地获取必要的跟踪数据。解决方案:跟踪数据输入/输出状态分析部分140基于优先级从高到低的顺序选择跟踪数据101的类型。跟踪数据选择部110根据跟踪数据缓冲器120的空闲容量102,从LSI的跟踪信号生成源输入跟踪数据101,判断输入的跟踪数据101是否为选择类型的跟踪数据101。当跟踪数据101是所选类型的跟踪数据101时,跟踪数据选择部分110将跟踪数据101存储在跟踪数据缓冲器120中。当跟踪数据101不是所选类型的跟踪数据101时,则跟踪数据选择部分110将跟踪数据101存储在跟踪数据缓冲器120中。跟踪数据选择部分110丢弃跟踪数据101。

著录项

  • 公开/公告号JP2012088887A

    专利类型

  • 公开/公告日2012-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP;

    申请/专利号JP20100234342

  • 发明设计人 ATOBE HIROSHI;KAMEMARU TOSHIHISA;

    申请日2010-10-19

  • 分类号G06F11/28;G06F11/34;G06F11/22;G01R31/28;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 17:40:05

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