机译:透明基材料可见性评估设备,透明基材料可见性评估程序和计算机可读记录介质,具有相同的记录,分层的对准设备,层状的对准程序,记录的数据和计算机记录的存储区具有相同记录的金属和透明基和计算机可读记录介质,以及具有相同记录的检测金属和透明基和计算机可读记录介质的标记位置的装置和程序
公开/公告号JP2014112065A
专利类型
公开/公告日2014-06-19
原文格式PDF
申请/专利权人 JX NIPPON MINING & METALS CORP;
申请/专利号JP20120286127
申请日2012-12-27
分类号G01N21/17;G01N21/84;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 16:20:09