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Point-of-Use Enrichment of Gas Mixtures for Semiconductor Structure Fabrication and Systems for Providing Point-of-Use Enrichment of Gas Mixtures

机译:用于半导体结构制造的混合气的使用点富集和用于提供混合气的使用点富集的系统

摘要

Point-of-use enrichment of gas mixtures for semiconductor structure fabrication, and systems for providing point-of-use enrichment of gas mixtures, are described herein. In an example, a system for fabricating a semiconductor structure includes a process chamber for processing a substrate of a semiconductor structure. A gas supply is coupled to the process chamber. A point-of-use gas enrichment module is coupled to the gas supply. The point-of-use gas enrichment module is configured to concentrate a first gas composition to provide a second gas composition to the gas supply for the process chamber. The second gas composition has a relative amount of a hydride species greater than a relative amount of corresponding hydride species in the first gas composition.
机译:本文描述了用于半导体结构制造的气体混合物的使用点富集以及用于提供气体混合物的使用点富集的系统。在一个示例中,用于制造半导体结构的系统包括用于处理半导体结构的基板的处理室。气体供应被耦合到处理室。使用点气体富集模块连接到气体供应。使用点气体富集模块被配置为浓缩第一气体成分以向用于处理室的气体供应提供第二气体成分。第二气体成分的氢化物种类的相对数量大于第一气体成分中相应的氢化物种类的相对数量。

著录项

  • 公开/公告号US2018190492A1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-07-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SUNPOWER CORPORATION;

    申请/专利号US201615395128

  • 发明设计人 TAIQING QIU;GLYN JEREMY REYNOLDS;XIAO BAI;

    申请日2016-12-30

  • 分类号H01L21/223;C09D5/24;B01D53/32;B01D53/22;H01L31/18;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:56:42

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