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2次元データ分析装置、2次元データ分析方法、及び2次元データ分析プログラム

机译:2D数据分析仪,2D数据分析方法和2D数据分析程序

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a two-dimensional analysis apparatus, two-dimensional data analysis method and a two-dimensional analysis program for efficiently analyze two-dimensional data at high speed and efficiently.;SOLUTION: An analysis apparatus 102 analyzes an analysis value by a moment which is a parameter representing a feature of an analysis value in a plurality of combinations calculated using a power of the analysis value based on a combination of two-dimensional data and analysis values that are values associated with two-dimensional data, and includes a data acquisition unit 210 for acquiring a plurality of combinations, a preprocessing data calculation unit 231 for calculating the power of the analysis value in the acquired combination and a cumulative sum of powers, an analysis request input unit 220 for receiving a select of at least one of combinations among the acquired combinations, and a moment calculation unit 232 for calculating a moment of a selected analysis value which is an analysis value in the selected combination based on the calculated cumulative sum.;SELECTED DRAWING: Figure 2;COPYRIGHT: (C)2019,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种二维分析装置,二维数据分析方法和二维分析程序,以高效且高效地高效地分析二维数据;解决方案:分析装置102对分析进行分析基于二维数据和作为与二维数据相关联的值的分析值的组合,利用分析值的幂计算出的多个组合中的分析值的特征的参数即矩值,包括:数据获取单元210,用于获取多个组合;预处理数据计算单元231,用于计算所获取的组合中的分析值的幂;以及幂的累加和;分析请求输入单元220,用于接收选择的所获取的组合中的组合中的至少一个,以及用于计算选择的分析的矩的矩计算单元232值;它是基于计算出的累计总和而在选定组合中的分析值。;选定的图纸:图2;版权:(C)2019,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2019035995A

    专利类型

  • 公开/公告日2019-03-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HITACHI LTD;

    申请/专利号JP20170155080

  • 发明设计人 淵脇 誠;

    申请日2017-08-10

  • 分类号G06F16/00;G09B29/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 12:20:08

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