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一种功率芯片终结区的制备方法、终结区的结构及功率芯片

摘要

一种功率芯片终结区的制备方法及终结区结构及功率芯片,制备方法包括以下步骤:提供一N型衬底;于所述N型衬底上形成一P+接地环;在所述N型衬底对应终结区位置对应形成一场氧化层;终结区包括边角区与平行区,所述平行区设置有第一P型环结构,所述边角区设置有第二P型环结构,第一、第二P型环结构位于非所述场氧化层区域。其技术方案的有益效果在于,通过终结区的平行区和边角区的结构设置,其中,P+接地环决定边角的第一个电场强度,可藉由第一个P型环P+接地环来调整的电场强度,使其设计可以使用最小的曲率,避开弯角造成的电力线拥挤使电场强度增大,其可以有效减少场终结区宽度进而减少芯片总面积降低成本。

著录项

  • 公开/公告号CN115498013A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-12-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海林众电子科技有限公司;

    申请/专利号CN202210864613.4

  • 发明设计人 杨绍明;张庆雷;王波;

    申请日2022-07-21

  • 分类号H01L29/06;H01L29/40;H01L21/266;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 201600 上海市松江区车墩镇泖亭路369号3、4幢

  • 入库时间 2023-06-19 18:00:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-20

    公开

    发明专利申请公布

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