一种PVT法生长低阻p型4H-SiC的方法及低阻p型4H-SiC

摘要

本发明公开了一种PVT法生长低阻p型4H‑SiC的方法，属于半导体材料领域。本申请主要是采用低温低压(生长温1600℃～1800℃，生长压强约10‑3Pa)生长限制SiC的生长速度小于100μm/h，此时可确保4H‑SiC在Si面生长。并且由于p型杂质Al是占据SiC中Si原子的晶格点位置，所以Al在(0001)Si面的掺杂浓度比在面的高。本申请所制备的p型4H‑SiC电阻率可降低至30mΩcm。