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一种光强检测方法及光强检测电路

摘要

本申请提供一种光强检测方法及光强检测电路,为被光照的第一薄膜晶体管的栅极和源极之间提供第一电压,为未被光照的第二薄膜晶体管的栅极和源极之间提供第二电压,检测经过第一薄膜晶体管的第一电流,经过第二薄膜晶体管的第二电流,确定第一电流和第二电流属于预设电流范围,基于调整方向的电压调整操作用于提高光照检测精度,调整方向包括增大或减小,根据调整方向分别对第一电压和第二电压进行调整,得到第三电压和第四电压,检测得到经过第一薄膜晶体管的第三电流,以及经过第二薄膜晶体管的第四电流,若第三电流和第四电流属于预设电流范围,根据第三电压、第四电压、第三电流和第四电流确定第一薄膜晶体管的光照强度,提高光照检测精度。

著录项

  • 公开/公告号CN115265774A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-11-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海中航光电子有限公司;

    申请/专利号CN202210907217.5

  • 发明设计人 金慧俊;董良;

    申请日2022-07-29

  • 分类号G01J1/44;

  • 代理机构北京允天律师事务所;

  • 代理人王荣

  • 地址 201108 上海市闵行区华宁路3388号

  • 入库时间 2023-06-19 17:25:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-01

    公开

    发明专利申请公布

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