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基于多粒子源模拟计算PKA能谱的方法

摘要

本发明提供了一种基于多粒子源模拟计算PKA能谱的方法,属于卫星空间环境分析技术领域。方法包括:S1、基于蒙特卡罗方法,构建半导体探测器模型;S2、设置粒子源,所述粒子源包括多种形式,至少其中一种形式的所述粒子源包括两种及以上类型的高能粒子;S3、根据所述半导体探测器模型的硅片厚度进行真实空间环境模拟,计算在相同入射结构和相同模型下,由不同形式的所述粒子源辐照所引起的初级碰撞原子能谱变化趋势。本发明通过使用多种形式的粒子源入射,并通过比较不同粒子源下PKA能谱变化趋势,选择更符合器件任务环境的粒子源,能够更好地模拟空间综合辐射环境因素的影响,进而提高模拟计算结果对空间综合辐射环境效应的代表性。

著录项

  • 公开/公告号CN115186565A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-10-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN202210759690.3

  • 申请日2022-06-30

  • 分类号G06F30/25;G06F111/08;G06F119/02;G06F119/04;

  • 代理机构北京隆源天恒知识产权代理有限公司;

  • 代理人万娟

  • 地址 150000 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2023-06-19 17:09:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-14

    公开

    发明专利申请公布

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