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粒径分布测量装置及粒径分布测量方法

摘要

本发明提供一种粒径分布测量装置,能边使试样的状态变化边测量粒径分布,所述粒径分布测量装置(100)具备:光源(LS),对收容在具备彼此分开规定距离的一对的透光板(C1)的池(C)内的试样射出测量光;一个或多个检测器(D1、D2),检测在试样中被散射的测量光;粒径分布计算器(P2),根据所述检测器(D1、D2)的输出信号,计算所述试样(S)中包含的粒子群的粒径分布,还具备通过使一对的所述透光板的至少一方移动来对所述池内的试样施加压力或剪切力的力施加机构(1),所述粒径分布计算器(P2)构成为计算对试样(S)施加的压力或剪切力从第一状态变化为第二状态的时点的粒径分布。

著录项

  • 公开/公告号CN114729866A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-07-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社堀场制作所;

    申请/专利号CN202080080007.2

  • 发明设计人 山口哲司;森哲也;名仓诚;

    申请日2020-11-09

  • 分类号G01N15/02;

  • 代理机构北京信慧永光知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人李成必;李雪春

  • 地址 日本京都府

  • 入库时间 2023-06-19 15:55:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-08

    公开

    国际专利申请公布

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