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Two-Dimensional X-Ray Diffraction

机译:二维X射线衍射

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摘要

This book describes the principles and applications of X-ray diffraction, concentrating specifically on two-dimensional diffraction experiments. Before reviewing the book in detail, it should be mentioned that X-ray diffraction has undergone a fundamental technological change during the last 15 years. With the introduction of area detectors in the 1990s it became possible not only to record diffraction images in two dimensions, but to evaluate these electronic images directly.
机译:本书介绍了X射线衍射的原理和应用,特别关注二维衍射实验。在详细回顾本书之前,应该提到的是,X射线衍射在过去15年中经历了根本性的技术变革。随着 1990 年代面积探测器的引入,不仅可以记录二维衍射图像,还可以直接评估这些电子图像。

著录项

  • 来源
    《Angewandte Chemie》 |2010年第29期|4858-4859|共2页
  • 作者

    Christian W. Lehmann;

  • 作者单位

    Max-Planck-lnstitut fur Kohlenforschung Mulheim an der Ruhr (Germany);

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 英语
  • 中图分类 应用化学;
  • 关键词

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