В современной измерительной технике широко применяются системы измерения на одном кристалле. Функции системного контроля встроены в техническое обеспечение микроэлектронного ЧИПа или реализуются с помощью внешнего тестера. В процессе обработки данных автоматического системного контроля формируются случайные и детерминистические векторы данных. Для контроля логистических блоков системы обычно используются квазислучайные функции. В процессе промышленного контроля однокристальных измерительных систем обычно применяются методы на основе генерирования случайных векторов. При этом используются линейные регистры со смещением в контуре обратной связи (LFSR) Такои метод достаточно прост, но характеризуется недостаточно высокой надежностью из-за невысокой достоверности измерений.
展开▼
