机译:使用performance限制结构对高性能n型MOSFET有效降低硅化镍/ p-Si(100)的肖特基势垒
Natl Tsing Hua Univ, Dept Mat Sci & Engn, 101,Sect 2,Kuang Fu Rd, Hsinchu 30013, Taiwan;
Natl Appl Res Labs, Natl Nano Device Labs, 26,Prosper Rd 1,Sci Based Ind Pk, Hsinchu 30078, Taiwan;
Natl Tsing Hua Univ, Dept Mat Sci & Engn, 101,Sect 2,Kuang Fu Rd, Hsinchu 30013, Taiwan;
Natl Tsing Hua Univ, Dept Mat Sci & Engn, 101,Sect 2,Kuang Fu Rd, Hsinchu 30013, Taiwan;
Natl Tsing Hua Univ, Dept Mat Sci & Engn, 101,Sect 2,Kuang Fu Rd, Hsinchu 30013, Taiwan;
Schottky barrier; nMOSFET; NiSi; Yb confinement;
机译:具有硅化肖特基势垒源和重掺杂n型沟道和漏极的n型非对称肖特基势垒晶体管的特性
机译:块状衬底上源极/漏极处具有双硅化物层的平面肖特基势垒MOSFET的性能分析以及ErSix / CoSi2 / Si堆叠界面的材料研究
机译:通过硅化过程中界面硒的分离,使n型硅(100)上的硅化物的肖特基势垒高度低
机译:UHV硅化Y作为N型MOSFET的潜在低肖特基势垒S / D接触材料
机译:金/(100)砷化镓和金/硅化铂/(100)硅二极管的肖特基势垒高度和弹道电子传输特性的横向变化。
机译:利用YTTerbium限制结构进行高性能N型MOSFET的NI硅化物/ P-Si(100)的有效肖特基屏障降低