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机译:使用随机矩阵方法的多晶体概率中尺度损伤检测
Engineering Systems Division, Massachusetts Institutes of Technology, 77 Massachusetts Ave, E38-420, Cambridge, MA 02139, USA;
Department of Civil and Environmental Engineering, University of Southern California, Los Angeles, CA, USA;
Stochastic modeling; heterogeneous random media; polycrystalline microstructure; damage detection; prognosis;
机译:一种检测强散射多晶中缺陷的随机矩阵方法:记忆效应如何帮助克服多重散射
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