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机译:使用测量的分散曲线估算薄膜凸谐谐振器中的材料参数
Mater. Phys. Lab. Helsinki Univ. of Technol. Finland;
bulk acoustic wave devices; surface acoustic waves; acoustic resonators; piezoelectric materials; Michelson interferometers; scanning electron microscopy; piezoelectricity; anisotropic media; numerical analysis; parameter estimation; thin film BAW resonators; dispersion curves; Lamb-wave modes; multilayer structure; bulk acoustic wave; electrical response; materials parameters; mechanical displacement; homodyne Michelson laser interferometer; scanning electron microscope; SEM; piezoelectricity; anisotropy; piezoelectric layer;
机译:使用测得的色散曲线估算薄膜声表面波谐振器中的材料参数
机译:使用测得的色散曲线估算薄膜声表面波谐振器中的材料参数
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