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机译:用相敏声显微镜测量各向异性基板上薄膜层的厚度
机译:用反射声显微镜测量受损层的厚度
机译:扫描电子显微镜图像的亮度与Si基板上SiO {sub} 2薄层的厚度
机译:扫描电子显微镜图像的亮度与Si基板上SiO {sub} 2薄层的厚度
机译:层状聚合物系统中深层内层的声学显微镜可视化和厚度测量
机译:用于厚度测量和监视多层结构的声学方法。
机译:铜基体粗糙度和锡层厚度对锡薄膜晶须生长的影响
机译:使用白光扫描干涉测量法与反射测量法相结合的透明薄膜层的厚度和表面测量
机译:在扫描电子显微镜中使用X射线峰值比率测量薄膜厚度